前言

通過這幾天對(duì)好幾個(gè)應(yīng)用的內(nèi)存泄露檢測(cè)和改善，效果明顯：

• 完全退出應(yīng)用時(shí)，手動(dòng)觸發(fā)GC，從原來占有內(nèi)存100多M降到低于20M；

• 手動(dòng)觸發(fā)GC后，通過adb shell dumpsys meminfo packagename -d查看Activity和View的數(shù)量也趨近于0了（沒有做到歸零是因?yàn)镾DK中存在內(nèi)存泄露，需要中間層去處理）；

• 發(fā)現(xiàn)了一個(gè)SDK中的內(nèi)存泄露（Android InputMethodManager 導(dǎo)致的內(nèi)存泄露及解決方案）；

• 發(fā)現(xiàn)一個(gè)MTK Webview的內(nèi)存泄露(org.chromium.android_webview.AwPasswordHandler.java中private static AwPasswordHandler sInstance = null導(dǎo)致的內(nèi)存泄露)。

從結(jié)果來看我分析和改善內(nèi)存泄露的方法是對(duì)的，這個(gè)過程并不復(fù)雜，所以可以梳理總結(jié)出來作為分享。

原則

對(duì)于性能問題，分析和改善有必要遵循以下原則：

• 一切看數(shù)據(jù)說話，不能跟著感覺走，感覺哪有問題就去改，很有可能會(huì)適得其反；

• 性能優(yōu)化是一個(gè)持續(xù)的過程，需要不斷地改善，不要想著一氣呵成；

• 對(duì)于性能問題，不一定必須要改善，受限于架構(gòu)或者其它原因某些問題可能會(huì)很難改善，必須要先保證能用，再才考慮好用。

• 改善后一定要驗(yàn)證，任何一個(gè)地方的改動(dòng)都需要驗(yàn)證，避免因?yàn)楦纳菩阅軉栴}導(dǎo)致其它的問題。

步驟

下面是我在針對(duì)內(nèi)存泄露這個(gè)性能問題上的解決步驟：

優(yōu)先處理常見的內(nèi)存泄露問題

首先解決常見的內(nèi)存泄露問題，這個(gè)過程可以借助Android Studio的Analyze-Inspect Code對(duì)代碼做靜態(tài)分析，常見的內(nèi)存泄露問題有：

• 非靜態(tài)內(nèi)部類導(dǎo)致的內(nèi)存泄露，比如Handler，解決方法是將內(nèi)部類寫成靜態(tài)內(nèi)部類，在靜態(tài)內(nèi)部類中使用軟引用/弱引用持有外部類的實(shí)例，eg：

        static class ExerciseHandler extends Handler{
            private SoftReference<ExerciseActivity> exerciseActivitySoftReference = null;
  
            public ExerciseHandler(ExerciseActivity exerciseActivity){
                exerciseActivitySoftReference = new SoftReference<ExerciseActivity>(exerciseActivity);
            }
    
            @Override
            public void handleMessage(Message msg) {
                ExerciseActivity exerciseActivity = exerciseActivitySoftReference.get();
                if(null != exerciseActivity){
                    super.handleMessage(msg);
                    switch (msg.what) {
                        case MSG_XX:
                            exerciseActivity.***;
                            break；
                        default:
                            break;
                    }
                }
            }
        }
  

• IO操作后，沒有關(guān)閉文件導(dǎo)致的內(nèi)存泄露，比如Cursor、FileInputStream、FileOutputStream使用完后沒有關(guān)閉，這種問題在Android Studio 2.0中能夠通過靜態(tài)代碼分析檢查出來，直接改善就可以了；

• 自定義View中使用TypedArray后，沒有recycle，這種問題也可以在Android Studio 2.0中能夠通過靜態(tài)代碼分析檢查出來，直接改善就可以了；

• 某些地方使用了四大組件的context，在離開這些組件后仍然持有其context導(dǎo)致的內(nèi)存泄露，這種問題屬于共識(shí)，在編寫代碼的過程中就應(yīng)該按照規(guī)則來，使用Application的Context就可以解決這類內(nèi)存泄露的問題了，至于什么情況下應(yīng)該使用四大組件的Context，什么時(shí)候應(yīng)該使用Application的context可以參見下表：

  application使用場(chǎng)景

備注：大家注意看到有一些NO上添加了一些數(shù)字，其實(shí)這些從能力上來說是YES，但是為什么說是NO呢？下面一個(gè)一個(gè)解釋：

1、數(shù)字1：?jiǎn)?dòng)Activity在這些類中是可以的，但是需要?jiǎng)?chuàng)建一個(gè)新的task，一般情況不推薦；

2、數(shù)字2：在這些類中去layout inflate是合法的，但是會(huì)使用系統(tǒng)默認(rèn)的主題樣式，如果你自定義了某些樣式可能不會(huì)被使用；

3、數(shù)字3：在Receiver為null時(shí)允許，在4.2或以上的版本中，用于獲取黏性廣播的當(dāng)前值。（可以無視）；

4、ContentProvider、BroadcastReceiver之所以在上述表格中，是因?yàn)樵谄鋬?nèi)部方法中都有一個(gè)context用于使用。

• 還有一種不屬于內(nèi)存泄露，但在分析內(nèi)存泄露的問題時(shí)應(yīng)該一并解決：同一個(gè)APP，將圖片放在不同的drawable文件夾下，在相同的設(shè)備上占用的內(nèi)存情況不一樣，具體可以參見：關(guān)于Android中圖片大小、內(nèi)存占用與drawable文件夾關(guān)系的研究與分析。解決這個(gè)問題遵循以下原則就可以了：

  1、UI只提供一套高分辨率的圖，圖片建議放在drawable-xxhdpi文件夾下（放在xxxhdpi或者更高分辨率的文件夾下沒有必要，權(quán)衡利弊，照顧主流設(shè)備即可），這樣在低分辨率設(shè)備中圖片的大小只是壓縮，不會(huì)存在內(nèi)存增大的情況；

  2、涉及到桌面插件或者不需要縮放的圖片，放在drawable-nodpi文件夾下，這個(gè)文件夾下的圖片在任何設(shè)備上都是不會(huì)縮放的。

通過工具檢查程序運(yùn)行后的內(nèi)存泄露

通過上面的步驟，應(yīng)用中的大部分內(nèi)存泄露問題都能夠得到解決，還有一些內(nèi)存泄露，需要運(yùn)行程序，分析運(yùn)行后的內(nèi)存快照來解決，比如注冊(cè)之后沒有反注冊(cè)、類中的靜態(tài)成員變量導(dǎo)致的內(nèi)存泄露、SDK中的內(nèi)存泄露等。解決這類問題可以分兩步進(jìn)行：

• 通過內(nèi)存泄露檢測(cè)工具先定位是哪有問題，內(nèi)存泄露的檢測(cè)有兩種比較便捷的方式：

  1、一種是使用開源項(xiàng)目Leakcanary，需要添加到代碼中，運(yùn)行后生成分析結(jié)果；

  2、另一種方式是使用adb shell dumpsys meminfo packagename -d命令，在進(jìn)入一個(gè)界面之前查看一遍Activity和View的數(shù)量，在退出這個(gè)界面之后再查看一遍Activity和View的數(shù)量，對(duì)比進(jìn)入前和進(jìn)入后Activity和View數(shù)量的變化情況，如果有差異，則說明存在內(nèi)存泄露（在使用命令查看Activity和View的數(shù)量之前，記得手動(dòng)觸發(fā)GC）。

  備注：在Android Studio中，可以通過如下方式獲取當(dāng)前選中進(jìn)程的內(nèi)存信息：

• 然后通過MAT取程序運(yùn)行時(shí)的內(nèi)存快照做詳細(xì)分析，對(duì)于MAT的使用，網(wǎng)上有很多優(yōu)質(zhì)的文章，比如：Android 性能優(yōu)化之使用MAT分析內(nèi)存泄露問題，在使用MAT前，有必要知道這幾點(diǎn)：

  1、 不要指望MAT明確告訴你哪里存在內(nèi)存泄露，這需要你根據(jù)上一步驟首先定位到可能存在內(nèi)存泄露的類，然后借助MAT確認(rèn)是否真的存在內(nèi)存泄露，具體哪個(gè)地方存在內(nèi)存泄露；

  2、借助Retained Size分析某一個(gè)類及與之相關(guān)的實(shí)例所消耗的內(nèi)存，如果這個(gè)類的Retained Size比較大，優(yōu)先分析；

  3、檢查某個(gè)類是否存在內(nèi)存泄露時(shí)，排除其軟/弱/虛引用，右鍵某個(gè)類→Merge Shortest Paths to GC Roots→exclude all phantom/weak/soft etc.references。

驗(yàn)證改善效果

根據(jù)個(gè)人經(jīng)驗(yàn)，我一般是這樣驗(yàn)證改善效果的，運(yùn)行程序，各個(gè)功能跑一遍，確保沒有改出問題，完全退出程序，手動(dòng)觸發(fā)GC，然后通過adb shell dumpsys meminfo packagename -d查看Activivites和Views的數(shù)量是否趨近于0；如果不是0，通過Leakcanary檢查可能存在內(nèi)存泄露的地方，繼續(xù)通過MAT分析，周而復(fù)始，改善到自己滿意為止。

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